Μικροσκοπία ατομικής δύναμης
| Μέρος μια σειράς λημμάτων |
| Νανοτεχνολογία |
|---|
| Αντίκτυπος της νανοτεχνολογίας και Εφαρμογές της νανοτεχνολογίας |
| Νανοϋλικά |
| Μοριακή αυτοσυναρμολόγηση |
| Νανοηλεκτρονική |
| Νανομετρολογία |
| Μοριακή νανοτεχνολογία |
Η μικροσκοπία ατομικής δύναμης (AFM) ή η μικροσκοπία δύναμης σάρωσης ( SFM ) είναι ένας πάρα πολύ υψηλής ανάλυσης τύπος μικροσκοπίου ανιχνευτή σάρωσης (SPM), με αποδεδειγμένη ανάλυση της τάξης των κλασμάτων ενός νανομέτρου, περισσότερο από 1000 φορές καλύτερη από την οπτική περίθλαση όριο.
 |
Αυτό το λήμμα χρειάζεται επέκταση. Μπορείτε να βοηθήσετε την Βικιπαίδεια επεκτείνοντάς το. |